Компания Bruker – мировой лидер в области трехмерных измерений и инспекции поверхностей. Лучшие в своем классе по простоте использования, автоматизации и анализу получаемых данных, профилометры серии ContourGT открывают перед пользователем безграничные возможности по исследованию образцов, как в материаловедении, так и в медицине.
Оптический микроскоп ContourGT-K отвечает всем современным требованиям, предъявляемым к метрологии поверхности.
Благодаря своему дизайну, отличному соотношению цена/качество, доступному пользователю интерфейсу программного обеспечения и возможности получения трехмерного изображения поверхности за считанные секунды с высочайшим разрешением, данный микроскоп является превосходным решением для всех исследовательских лабораторий и отделов контроля качества продукции у промышленных организаций.
Профилометр ContourGT-K сочетает в себе все последние разработки и новинки в области бесконтактной метрологии поверхностей. Высокая скорость сканирования, низкие шумы, высокое разрешение, система освещения с двумя источниками LED, высокая повторяемость результатов делают этот прибор незаменимым помощником при проведении анализа поверхности материалов и оценке их качества на различных этапах технологического процесса.
Широкие возможности по выбору объективов и линз, корректирующих поле зрения, а также наличие опции склейки изображений, позволяют получать изображения интересующих участков поверхностей размером от десятков и сотен мкм до 100х100 мм с субнанометровым разрешением.
При работе с образцами довольно часто встречается необходимость в наличии их наклона, для того чтобы выровнять плоскость или снять что-то не стенке объекта. Оптический профилометр Bruker ContourGT-K имеет наклон основания на 6 градусов. Благодаря чему имеется:
Доступный пользовательский интерфейс ПО и наличие всевозможных опций по анализу полученных изображений превращает рутинную и скучную работу с прибором в интересную и творческую.
Наличие атомно-силовой головки NanoLens™ позволяет достичь высочайшего латерального разрешения, и снимать образцы, съемка которых затруднена оптической системой.
Основание для образцов XY |
150 мм ручное |
Перемещение по Z |
100 мм ручное |
Функция наклона |
наклон сканирующей головки на ±6° |
Источник света |
Два светодиода с большим сроком службы |
Матрица камеры |
640 x 480 |
Объективы |
Стандартные: 2.5x,5.0x,10x,20x,50x,115x |
Крепление объективов |
Адаптер под один объектив |
Линзы поля зрения |
0.5,0.75,1.0,1.5,2.0X |
Максимальный предел сканирования по вертикали |
10 мм |
Разрешение по вертикали |
<0,1 нм |
Повторяемость RMS |
0,01 нм |
Латеральное разрешение |
0,38 мкм |
Максимальная скорость сканирования |
47 мкм/с |
Коэффициент отражения образцов |
0.05% - 100% |
Высота образцов |
До 10 см |
ПО |
Vision64 на базе Windows 7 64-бит |
Калибровка |
Калибровочные стандарты |
Габариты |
492мм x 534мм x 754мм |
Вес системы |
60 кг |
Объективы и линзы поля зрения
К профилометрам дополнительно можно приобрести объективы и линзы, корректирующие поле зрения. Выбор обуславливается поставленными задачами – полями зрения, которые необходимо достичь и разрешением. Все возможные объективы и линзы представлены ниже. |
Камеры
В базовой комплектации включена камера 640 x 480. Возможно приобретение дополнительных камер:
Насадка для атомно-силовой микроскопии NanoLens™
NanoLens™ представляет собой АСМ головку, которая может быть установлена в обычную турель оптического профилометра. Благодаря моторизации турели, путем одного клика мыши можно легко перейти от оптической профилометрии к атомно-силовой микроскопии, что расширяет возможности профилометра и делает его еще более мощным инструментом анализа материалов. Наличие АСМ не только способствует увеличению латерального разрешения (менее 10 нм), которое не возможно достичь оптическим методом, но и позволяет снимать материалы, с которыми ранее оптика не справлялась |
Кроме того, наличие дополнительных методов АСМ позволяют помимо топографии поверхности, получить также информацию о ее свойствах.
Получение и анализ данных с помощью оптической профилометрии и атомно-силовой микроскопии осуществляется с помощью одного программного обеспечения, что не только позволяет оператору быстро просканировать поверхность, но и быстро проанализировать полученные данные с помощью одной программы, сопоставив полученную информацию от обоих методов.